Ukazał się nowy tom wydawnictwa Springer z serii Applied Condition Monitoring

Advances in Technical Diagnostics II – Proceedings of the 7th International Congress on Technical Diagnostics, ICTD2022, 14–16 September 2022, Radom, Poland  

Springer Nature Switzerland AG 2023 

Editors 

Andrzej Puchalski, Iwona Komorska, University of Technology and Humanities Radom, Poland 

Bogusław Edward Łazarz, Silesian University of Technology, Gliwice, Poland 

Fakher Chaari, National School of Engineers of Sfax, Sfax, Tunisia 

Radoslaw Zimroz, University of Science and Technology Wroclaw, Poland 

 Ten  tom zawiera przegląd ostatnich postępów w diagnostyce technicznej. Sztuczna inteligencja jest niezbędna w większości technicznych systemów diagnostycznych. Przemysłowa sztuczna inteligencja może tworzyć autonomiczne systemy przemysłowe, które zapewniają elastyczne działanie, odporność na awarie i samoorganizację. Dziś, w dobie powszechnej cyfryzacji, nastąpił intensywny rozwój badań nad zapewnieniem konwergencji świata fizycznego i cyfrowego. Książka obejmuje teorię i zastosowania Internetu rzeczy IoT, inteligentnych czujników i technologii uczenia maszynowego w zaawansowanym monitorowaniu stanu. 

W kolejnych rozdziałach książki prezentowane są wyniki badań naukowców i ich partnerów przemysłowych, tworzących innowacje prowadzące do ich przewagi konkurencyjnej. 

Data publikacji

Kategoria

Udostępnij

Podobne wpisy

Czy wyrażasz zgodę na wykorzystanie plików cookie w zakresie opisanym w polityce bezpieczeństwa

Czy wyrażasz zgodę na wykorzystanie plików cookie w zakresie opisanym w polityce bezpieczeństwa

Czy wyrażasz zgodę na wykorzystanie plików cookie w zakresie opisanym w polityce bezpieczeństwa

Nie
Wróć